Waygate Technologies stellt mit dem Phoenix Nanotom® HR ein neues hochauflösendes industrielles CT-Prüfsystem vor, das die Inspektion in der Elektronik und Materialwissenschaft nach vorn bringt

HÜRTH, Deutschland, 6. Mai 2025 – Waygate Technologies, a Baker Hughes business, und weltweit führender Anbieter von Lösungen für die zerstörungsfreie Prüfung (ZfP) in der Industrie, hat heute auf der Messe Control 2025 in Stuttgart sein neues, extremhochauflösendes Computertomographiesystem (CT) Phoenix Nanotom® HR (High Resolution) vorgestellt. Das System wurde entwickelt, um fortschrittliche Röntgenbildgebungstechnologie einem breiteren Anwenderkreis in der Elektronikbranche sowie in Forschungs- und Entwicklungsbereichen wie Material-, Bio- und Geowissenschaften zugänglich zu machen.

Im Rahmen der neuen Produkteinführung gab Waygate Technologies auch eine technologische Zusammenarbeit mit Excillum bekannt, einem weltweit führenden Unternehmen auf dem Gebiet fortschrittlicher Mikrofokus- und Nanofokus-Röntgenquellen. Das Phoenix Nanotom® HR System wird eine neue hochauflösende Nanofokus-Röntgenröhre von Excillum für höchste Bildauflösung und Kontrast über den gesamten Spannungsbereich von 40-160 kV verwenden.

Fortschrittliche Technologie zugänglich machen

„Wir freuen uns, unser Phoenix Nanotom® HR hier auf der Control 2025 vorzustellen und unsere strategische Zusammenarbeit mit Excillum bekannt zu geben“, sagt Ludovic Milosevic, General Manager Radiography Systems bei Waygate Technologies. „Durch die Nutzung der Nanofokus-Quelle von Excillum bietet die neue HR-Version eine bis zu fünfmal bessere Auflösung als unser bestehendes, hochmodernes Nanotom M. Damit ist es auf Augenhöhe mit fortschrittlichen Scannern mit optischer Vergrößerung - aber mit einem einfacheren System, einer schnelleren Lernkurve, größerer Flexibilität und zu einem günstigeren Preis als vergleichbare Lösungen“.

Das Phoenix Nanotom® HR nutzt die 300 nm Focal Spot-Technologie und ermöglicht eine deutlich höhere geometrische Schärfe und Detailerkennung bis zu 50 Nanometern (0,05 Mikrometer). Außerdem sorgt die Technologie für einen hohen Kontrast bei Materialien mit hoher und niedriger Absorption in einem einzigen Bild. Ähnliche Auflösungen können drei- bis fünfmal schneller erreicht werden als mit dem Nanotom M oder optischen Lösungen, wodurch sich die Scanzeiten für Proben, die für eine Auflösung von 0,5 µm 120 Minuten benötigen, auf nur 40 Minuten bzw. von einer Stunde auf nur 10 Minuten reduzieren.

Technische Exzellenz mit praktischen Vorteilen

Im Gegensatz zu herkömmlichen hochauflösenden Imaging-Systemen, die spezielles Fachwissen und einen hohen Wartungsaufwand erfordern, verfügt das Phoenix Nanotom® HR über eine einfache Benutzeroberfläche mit automatischer Focal Spot Auswahl und erhöht die Benutzerfreundlichkeit. Nach nur wenigen Stunden Schulung können Anwender Submikrometerpartikel, Konstruktionsabweichungen, Fertigungsprobleme, Materialfehler und geometrische Strukturen untersuchen. Darüber hinaus kann das System rund um die Uhr mit hervorragender Stabilität betrieben werden, wodurch der Wartungsaufwand auf ein Viertel des branchenüblichen Niveaus reduziert wird.

Diese Fähigkeiten machen das System ideal für Anwendungen in zahlreichen Bereichen, darunter Halbleiter- und Elektronikinspektion, Batterieforschung, additive Fertigung, Materialwissenschaft, Geowissenschaften, Biowissenschaften und die Erhaltung von Kulturerbe.

Verfügbarkeit

Das Phoenix Nanotom® HR kann ab sofort bestellt werden. Für weitere Informationen oder eine Vorführung besuchen Sie bitte waygate-tech.com/CT oder kontaktieren Sie phoenix-info@bakerhughes.com.

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